Kursy

 
Inne usługi

 




Analiza przemysłowych systemów pomiarowych - MSA

Opis kursu: Kurs przeznaczony jest dla wszystkich zainteresowanych wykorzystaniem pakietu STATISTICA do wykonywania zadań wynikających z wymagań systemu nadzorowania i sterowania procesami pomiarowymi stosowanymi w przemyśle do oceny zgodności wyrobów i procesów wytwarzania z wymaganiami odpowiednich specyfikacji technicznych. Prezentowane zagadnienia obejmują wymagane przez normy ISO/TS16949:2002 zasady i procedury uzyskiwania potwierdzenia metrologicznego, które jest niezbędnym warunkiem do tego, aby system pomiarowy mógł być zaakceptowany do realizacji danego zadania przemysłowego. Wykonywane ćwiczenia praktyczne mają na celu przygotowanie uczestników kursu do realizacji takich zadań jak: weryfikacja zdolności systemu pomiarowego do oceny procesu produkcji, czy też monitorowanie zdolności pomiarowej systemów w rzeczywistych warunkach ich eksploatacji. Większość omawianych podczas kursu procedur zgodna jest z zaleceniami, cieszącego się dużym uznaniem w przemyśle samochodowym, przewodnika pt: "Measurement Systems Analysis - MSA" Third Edition. 2002 opracowanego przez konsorcjum AIAG powołane przez DaimlerChrysler Corporation, Ford Motor Company i General Motors Corporation.

Kurs ten jest polecany w cyklu szkoleń Six Sigma (patrz kurs Wprowadzenie do Six Sigma).

Wymagania: umiejętność obsługi komputera w środowisku Windows, podstawowa znajomość pakietu STATISTICA. Zalecamy wcześniejszy udział w kursie STATISTICA kurs podstawowy lub Statystyka dla niestatystyków lub Jak rozumieć statystykę w jakości - wprowadzenie

Kontynuacją mogą być kursy: Analiza danych pomiarowych i sygnałów, Kompleksowy system sterowania jakością STATISTICA Enterprise/QC.

Terminy: 17.11.2008, 17.06.2009

Program kursu:

  • System pomiarowy i jego struktura
    • Proces pomiarowy i wyrażanie jego wyniku
    • Wpływ elementów systemu na składowe wyniku pomiarów
  • Wymagania wynikające z norm ISO/TS 16949:2002
    • Warunek podejmowania decyzji opartych na faktach
    • Istota i zasady uzyskiwania potwierdzenia metrologicznego
    • Sterowanie procesami pomiarowymi w przemyśle
  • Właściwości przemysłowych systemów pomiarowych
    • Czułość i rozdzielczość
    • Dokładność (poprawność i precyzja)
    • Powtarzalność i odtwarzalność (R&R)
    • Liniowość
    • Stabilność
  • Statystyczna analiza właściwości systemów pomiarowych
    • Badanie dokładności systemu (zgodności z deklaracją producenta)
    • Analiza powtarzalności i odtwarzalności (eksperyment R&R)
    • Analiza liniowości systemu i wykorzystanie jej rezultatów
    • Ocena stabilności sytemu pomiarowego
    • Wyznaczanie wskaźników zdolności pomiarowej systemu