Opis kursu: Na kursie uczestnicy zapoznają się z najważniejszym typem analizy stosowanej w statystycznym sterowaniu jakością, jakim są karty kontrolne Shewharta. W trakcie kursu omawiane są wszystkie najważniejsze rodzaje kart kontrolnych zarówno dla pomiarów liczbowych jak i dla pomiarów alternatywnych. Dla prezentowanych kart kontrolnych omawiane są podstawy teoretyczne oraz prezentowane są przykłady ich zastosowania (w programie STATISTICA) oraz interpretacji. W trakcie kursu omawiane są również przypadki, kiedy nie można stosować standardowych kart kontrolnych oraz niestandardowe sposoby poprawnego analizowania danych w takich sytuacjach. Po kursie uczestnik będzie w stanie samodzielnie dobrać dla procesu odpowiednią kartę kontrolną, przeprowadzić analizę oraz odpowiednio zinterpretować jej wyniki.

Kurs ten jest polecany w cyklu szkoleń Six Sigma (patrz kurs Wprowadzenie do Six Sigma).

Wymagania: umiejętność obsługi komputera w środowisku Windows, podstawowa znajomość pakietu STATISTICA. Zalecamy wcześniejszy udział w kursie Jak rozumieć statystykę w jakości - wprowadzenie, STATISTICA - kurs podstawowy lub Statystyka dla niestatystyków.

Kontynuacją mogą być np. kursy: SPC 2 - zaawansowane karty kontrolne, SPC 3 - analiza zdolności procesu, Analiza przemysłowych systemów pomiarowych - MSA, Komputerowe wspomaganie planowania i analizy statystycznej doświadczalnych badań innowacyjnych, Statystyka w walidacji metod pomiarowych, Analiza danych pomiarowych i sygnałów, Statystyka w normach ISO.

Terminy: 13-14.10.2008, 17-18.03.2009

Program kursu:

• Wprowadzenie do programu STATISTICA
• Metody i filozofia statystycznego sterowania procesami
  • Podstawowe zasady
  • Dobór granic kontrolnych
  • Dobór liczności próbki i czasu próbkowania
  • Analiza wzorców przebiegu
  • Implementacja SPC
  • Przykłady i ćwiczenia
• Karty kontrolne dla pomiarów liczbowych
  • Karta kontrolna X-śr i R
  • Karta kontrolna X-śr i S
  • Karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu (I/MR)
  • Przykłady i ćwiczenia
  • Zastosowania kart dla pomiarów liczbowych
• Karty kontrolne dla pomiarów alternatywnych
  • Karty dla liczby defektów (C, U)
  • Karty dla liczby elementów niezgodnych (Np, P)
  • Przykłady i ćwiczenia
• Inne metody sterowania jakością
  • Karta sum skumulowanych (CUSUM)
  • Karta wykładniczo ważonej średniej ruchomej (EWMA)
  • Karta kontrolna krótkich serii
  • Przykłady i ćwiczenia
• Karty kontrolne dla właściwości o rozkładzie innym niż normalny
• Zastosowanie kart kontrolnych w metodzie Sześć Sigma