Kursy

 
Inne usługi

 




SPC 2 - zaawansowane karty kontrolne

Opis kursu: Kurs jest rozszerzeniem zagadnień omawianych na kursie SPC 1 -karty kontrolne i jest przeznaczony dla osób, które chcą zapoznać się z praktycznymi aspektami statystycznego sterowania procesami, związanymi bezpośrednio z produkcją lub innymi procesami w obrębie przedsiębiorstw, które wpływają na ich produktywność i konkurencyjność. W trakcie kursu główny nacisk położony jest na praktyczne podejście do sterowania jakością i zajęcia warsztatowe. Uczestnicy zapoznają się ze sposobami automatyzacji procesu zbierania danych i sterowania jakością w STATISTICA. W ramach zajęć warsztatowych zostaną przedstawione i omówione różnego rodzaju sytuacje, z którymi można spotkać się w trakcie definiowania czy też prowadzenia kart kontrolnych.

Kurs ten jest polecany w cyklu szkoleń Six Sigma (patrz kurs Wprowadzenie do Six Sigma).

Wymagania:umiejętność obsługi komputera w środowisku Windows, podstawowa znajomość pakietu STATISTICA. Zalecamy wcześniejszy udział w kursie Jak rozumieć statystykę w jakości - wprowadzenie, lub STATISTICA - kurs podstawowy lub Statystyka dla niestatystyków oraz SPC1 - karty kontrolne.

Kontynuacją mogą być np. kursy: SPC 3 - analiza zdolności procesu, Analiza przemysłowych systemów pomiarowych - MSA, Komputerowe wspomaganie planowania i analizy statystycznej doświadczalnych badań innowacyjnych, Statystyka w walidacji metod pomiarowych, Analiza danych pomiarowych i sygnałów, Statystyka w normach ISO.

Terminy: 27-28.10.2008, 03-04.06.2009

Program kursu:

  • Wprowadzenie do kart kontrolnych w STATISTICA
  • Karta kontrolna pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu (I/MR) w STATISTICA
    • Wprowadzenie teoretyczne
    • Symulacja kontroli procesu - warsztaty
      • Przygotowanie w programie STATISTICA arkusza do wprowadzania danych
      • Identyfikacja parametrów karty i jej utworzenie
      • Ustawienie parametrów karty kontrolnej do monitorowania procesu
      • Ćwiczenia praktyczne i interpretacja zdarzeń
  • Karta kontrolna X-śr i R w STATISTICA
    • Wprowadzenie teoretyczne
    • Symulacja kontroli procesu - warsztaty
      • Przygotowanie w programie STATISTICA arkusza do wprowadzania danych
      • Identyfikacja parametrów karty i jej utworzenie
      • Ustawienie parametrów karty kontrolnej do monitorowania procesu
      • Ćwiczenia praktyczne i interpretacja zdarzeń
  • Przykłady wykorzystania makr STATISTICA do automatyzacji kart kontrolnych
  • Karta kontrolna dla właściwości z autokorelacją
  • Ekonomiczny model karty kontrolnej