Opis kursu: W trakcie tego kursu uczestnicy zapoznają się dogłębnie z teoretycznymi podstawami, na których opierają się metody wykorzystywane w statystycznym sterowaniu procesami (SPC) i szacowaniu zdolności procesów. Kurs ten jest niezastąpiony dla osób, które nie chcą ograniczać swojej wiedzy do praktycznych zastosowań metod stosowanych w SPC, ale pragną również je zrozumieć w celu szerszego ich wykorzystania. Kurs z pewnością będzie użyteczny dla ludzi, zajmujących kluczowe stanowiska w działach odpowiedzialnych za kontrolę jakości w przedsiębiorstwie, jak również dla osób zajmujących kluczowe stanowiska w strukturze Sześć Sigma (Six Sigma), takich jak Green Belts czy Black Belts.

Kurs ten jest polecany w cyklu szkoleń Six Sigma (patrz kurs Wprowadzenie do Six Sigma).

Kontynuacją mogą być np. kursy: SPC 1 - karty kontrolne, SPC 2 - zaawansowane karty kontrolne, SPC 3 - analiza zdolności procesu, Analiza przemysłowych systemów pomiarowych - MSA, Statystyka w walidacji metod pomiarowych, Analiza danych pomiarowych i sygnałów, Statystyka w normach ISO. Komputerowe wspomaganie planowania i analizy statystycznej doświadczalnych badań innowacyjnych,

Terminy: 16.03.2009

Program kursu:

• Pomiar poziomu jakości wykonania
  • Zmienne diagnostyczne
  • Podstawowe miary poziomu jakości wykonania
    • Wadliwość
    • Przeciętna liczba wad w jednostce produktu
  • Miary jakości wykonania jako parametry rozkładów zmiennych decyzyjnych
• Statystyczna analiza wydolności procesu
  • Podstawowe problemy i pojęcia
  • Badanie wydolności procesu przy alternatywnej ocenie właściwości produktu
  • Badanie wydolności procesu przy liczbowej ocenie właściwości produktu
  • Znormalizowane wskaźniki wydolności procesu
• Sterowanie procesem za pomocą kart kontrolnych Shewharta
  • Wprowadzenie
  • Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta
  • Funkcjonowanie kart kontrolnych Shewharta
  • Przegląd kart kontrolnych Shewharta stosowanych przy liczbowej ocenie właściwości
    • Karta kontrolna
    • Karta kontrolna -s i karta kontrolna -r
  • Przegląd kart kontrolnych Shewharta stosowanych przy alternatywnej ocenie właściwości
    • Karta kontrolna z (karta kontrolna np)
    • Karta kontrolna w (karta kontrolna p)
  • Przegląd kart Shewharta do kontroli przeciętnej liczby wad lub niezgodności w jednostce produktu
    • Karta kontrolna c
    • Karta kontrolna u
  • Charakterystyki operacyjne kart kontrolnych
    • Funkcje operacyjno-charakterystyczne i funkcje mocy
    • Średnie długości przebiegu
  • Karty kontrolne Shewharta z możliwością akceptacji procesu