STATISTICA Analiza procesu składa się z dwóch modułów udostępniających, w polskojęzycznym środowisku użytkownika, pełny wybór procedur analizy zdolności procesu, analizy powtarzalności i odtwarzalności pomiarów, analizy Weibulla, planów badań i komponenty wariancyjne efektów losowych (patrz niżej).

Analiza zdolności procesu. STATISTICA Analiza procesu zawiera kompletny zestaw procedur obliczania wskaźników zdolności procesu, zarówno dla danych surowych jak i zagregowanych (np. C_p, C_r, C_pk, C_pl, C_pu, K, C_pm, P_p, P_r, P_pk, P_pl, P_pu), a także procedury wyznaczania granic tolerancji dla rozkładu normalnego jak i niezależnych od rozkładu, zawiera też odpowiednie wykresy dla analizy zdolności (histogramy z zakresami zmienności, specyfikacją procesu i krzywą rozkładu). Poza wskaźnikami i statystykami obliczanymi dla rozkładu normalnego można otrzymać, metodą percentyli, wartości wskaźników (np. C_pk, C_pl, C_pu) dla ogólnych rozkładów (krzywe Johnsona lub Pearsona, dopasowywane przez momenty) jak i dla konkretnych, zadanych rozkładów, jak rozkład beta, wykładniczy, wartości ekstremalnych (typu I, Gumbela), gamma, logarytmiczno-normalny, Rayleigha i Weibulla. Program znajduje parametry tych rozkładów metoda największej wiarogodności, a jakość dopasowania oceniać można na wiele sposobów: porównując rozkłady częstości obserwowane z oczekiwanymi, obliczając statystykę d Kołmogorowa-Smirnowa, poprzez histogramy, wykresy prawdopodobieństwo-prawdopodobieństwo (P-P) i kwantyl-kwantyl (K-K). Dostępna jest też opcja automatycznego dopasowywania rozkładu i wyboru tego, który najlepiej pasuje do danych.

Powrót na początek

Plany badania i analiza powtarzalności i odtwarzalności pomiarów (R&R). Można tu generować plan badania, a po wpisaniu pomiarów analizować powtarzalność i odtwarzalność, dla pojedynczych lub wielokrotnych prób. Dane do analizy mogą znajdować się w standardowym pliku danych jak również mogą być zorganizowane w tabelę typową dla analizy R&R. Wyniki analizy to, między innymi, oceny komponentów wariancyjnych (zmienność miernika, operatora, części, zmienność operatora względem części, operatora wzgl. próby, części wzgl. próby, operatora wzgl. części i wzgl. próby), obliczane metodą rozstępu lub metodą ANOVA. Przy metodzie ANOVA podawane są też przedziały ufności dla komponentów wariancyjnych. Dodatkowymi statystykami opisującymi komponenty wariancyjne są: procent zmienności, sigma procesu i całkowita zmienność. Program oblicza też statystyki opisowe dla operatorów względem części, rysuje karty R i s dla operatorów i dla części, wykresy ramka-wąsy i podsumowujący wykres R&R. Pełny wybór metod estymacji komponentów wariancyjnych dla efektów losowych zawarty jest w specjalistycznym module STATISTICA Komponenty wariancyjne (włączonym do omawianego programu, patrz niżej) oraz w module Ogólne modele liniowe, dostępnym w STATISTICA Zaawansowane modele liniowe i nieliniowe.

Powrót na początek

Analiza Weibulla. Opcje Analizy Weibulla to potężne narzędzia graficzne pozwalające w pełni korzystać z uogólnień, na jakie pozwala rozkład Weibulla. Użytkownik otrzymywać może wykresy prawdopodobieństwa Weibulla, szacować parametry rozkładu i przedziały ufności dla niezawodności. Wykresy prawdopodobieństwa otrzymywać można dla danych kompletnych jak i dla danych jednokrotnie i wielokrotnie uciętych. Parametry rozkładu estymować można z wykresu ryzyka wzgl. uporządkowanych czasów awarii. Stosowane są następujące metody estymacji: maksimum wiarogodności (dane kompletne i ucięte) i czynniki ważące bazujące na estymacji liniowej (dane kompletne i pojedynczo ucięte), zmodyfikowana metoda momentów, która jest nieobciążona zarówno ze względu na średnią jak i wariancję. Obliczane są przedziały ufności dla parametru kształtu, skali i położenia rozkładu, jak również dla percentyli. W programie dostępne są graficzne testy zgodności dopasowania oraz testy Hollandera-Proschana, Manna-Scheuera-Fertiga i Andersona-Darlinga. Zauważmy również, że w module Ogólnych modeli linowych w STATISTICA Zaawansowane modele liniowe i nieliniowe znajdują się opcje dopasowywania uogólnionych modeli liniowych z rodziny rozkładów wykładniczych do danych normalnych i innych.

Powrót na początek

Plany badań. Generować można tu plany badań wyrywkowych i plany sekwencyjne, dla średnich rozkładu normalnego, frakcji dwumianowych i częstości Poissona. Wynikami są: liczność próbki, funkcja mocy, wykresy planów sekwencyjnych, z danymi lub bez, oczekiwane liczności próbki dla H₀ i H₁ itp. Zauważmy, że również w STATISTICA Analiza Mocy Testów znajdują się opcje obliczania rozmiarów próbek i estymacji mocy testów dla najróżniejszych typów planów badań (np. ANOVA) i typów danych (jak zliczenia, ucięte czasy awarii itp.).